仪器具有电流驱动高端Hcur、电流驱动低端Lcur、电压检测高端Hpot、电压检测低端Lpot 和对应于每测试端的屏蔽端一共四对测试端。

　　每个测试端都含有屏蔽层，屏蔽目的在于减小对地杂散电容的影响和降低电磁干扰。测量时Hcur、Hpot 和Lpot、Lcur 应在被测元件引线上连接，形成完整的四端测量，以减小引线及连接点对测试结果的影响(尤其是损耗测量)。特别是在对低阻抗元件进行检测时，应将检测端Hpot、Lpot 连接至元件的引线端，以防止引线电阻加入被测阻抗，其连接的原则为Hpot、Lpot 所检测的应为被测件上实际存在的电压。Hcur、Hpot、Lpot、Lcur 也可简称为Hc、Hp、Lp、Lc。一般通用LCR 电桥采用5 端连接法连接到被测件即可，如下图：

　　如果接触点及引线电阻Rlead 远小于被测阻抗(例如：Rlead<Zx/1000, 精度要求不高于0.1%)时则Hcur、Hpot 及Lpot、Lcur 可连接在一起后再连至被测元件两端(两端测量)。

　　在进行一些精度要求较高的测量时，使用测量夹具比使用测试导线(仪器附配的开尔文夹具)要好的多。开尔文测试线在10kHZ 下频率测试时，可以有较好的测量结果，但超过10kHZ 频率时，开尔文测试线很难满足测试要求。因为在高频时，导线之间间隙的变化直接改变了测试端杂散电容和电感，而测试导线总是难以加以固定的;测试导线也容易引起其它的测试误差。

　　因此，在较高频率进行测量时应尽可能使用测试夹具，如果由于条件所限，则仪器清零时测试线的状态应尽可能与测试时保持一致。

　　高精度的测量应满足以下几方面的要求：

　　1. 分布阻抗必须降至很小，尤其测量高阻抗元件时。

　　2. 接触电阻必须降至很小。

　　3. 应使测试端形成完整的四端对测量。

　　4. 触点之间必须可以短路和开路。短路和开路清“0”可以轻易地减少测试夹具的分布阻抗对测量的影响。对于开路清“0”，测试端应该与被测件连接时一样，以相同的距离隔开。对于短路清“0”，低阻抗的短路片应该连接在测试端之间。