XUL 210/220
产品描述
XUL 210/220典型应用领域
通过使用比例计数管实现高计数率，从而可以进行精确测量。出色的精度和长期稳定性是所有FISCHERSCOPE x射线系统的特点。重新校准的必要性大大减少，节省了时间和精力。
FISCHER的基本参数方法允许分析固体和液体样品以及无需校准的涂层系统。
FISCHERSCOPE x射线XUL/XULM仪器被设计为用户友好的台式仪器。根据预期用途，不同的版本提供不同的支持阶段：
为了快速方便地定位样品，x射线源和检测器组件位于仪器的下腔中。测量方向从样品下方开始，样品由透明窗口支撑。尽管这些仪器体积小巧，但它们配备了一个大的测量室。这样就可以对较大的标本进行测量。
测量的整个操作和评估以及测量数据的清晰呈现是在PC上执行的，使用功能强大且用户友好的WinFTM®软件。
FISCHERSCOPE XUL 210, XUL 220和XULM 240仪器符合DIN ISO 3497和ASTM B 568。它们是完全受保护的仪器，根据德国法规“Deutsche Röntgenverordnung-RöV”进行型式认证。
XUL210/220参数
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通用规格 |
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设计用途 |
能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪（EDXRF）， 用于无损测量镀层厚度及分析材料成分 |
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可测量元素范围 |
多时可同时测定从氯（17）到铀（92）中的24中元素 （使用选配的WinFTM®BASIC软件时） |
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形式设计 |
台式仪器，测量门向上开启 |
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测量方向 |
由上往下 |
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X射线源 |
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X射线管 |
热稳定钨靶射线管 |
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高压 |
三档：30KV、40KV、50KV |
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孔径（准直器） |
φ0.3mm；可选长方形0.3x0.05mm |
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基本滤片 |
固定 |
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测量点尺寸 |
取决于测量距离和孔径大小，实际的量点大小与视频 窗口中显示的一致，较小测量点大小：约为φ0.51mm |
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X射线探测 |
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X射线探测器 |
比例接收器 |
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测量距离 |
0...25mm，使用受专有保护的DCM测量距离补偿法 |
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样品定位 |
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样品放置 |
手动 |
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视频系统 |
高分辨率CCD彩色摄像头，可沿着初级X射线 光束方向，手动聚焦，对被测位置进行监控 |
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十字线（带有经过校准的刻度和测量点尺寸） |
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可调节亮度的LED照明 |
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图像放大倍率 |
40x~160x |
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计算单元 |
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计算机 |
Windows®PC |
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软件 |
标准：FISCHER WinFTM®LIGHT |
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可选：FISCHER WinFTM®BASIC，PDM®，SUPER |
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工作台 |
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形式设计 |
手动XY轴工作台 |
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样品放置可用区域 |
310x320mm |
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X/Y轴工作台移动范围 |
30x40mm |
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样品很大重量 |
2KG |
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样品很高高度 |
174mm |
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电气参数 |
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电源要求 |
交流220V，50HZ |
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功耗 |
很大120W（不包括计算机） |
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保护等级 |
IP40 |
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尺寸规格 |
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外部尺寸（宽x深x高） |
403x588x444mm |
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重量 |
大约45KG |
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环境要求 |
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使用时温度 |
10℃~40℃ |
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存储或运输时温度 |
0℃~50℃ |
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空气相对湿度 |
≤95%，无结露 |
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执行标准 |
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CE合格标准 |
EN 61010 |
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X射线标准 |
DIN ISO 3497和ASTM B 568 |
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形式标准 |
作为受完全保护的仪器， 符合德国"Deutsche Rontgenverordnung-RoV"法规的规定 |
比例接收器能实现高计数率，这样就可以进行高精度测量。正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY仪器一样，本款仪器有着不凡的准确性以及长期的稳定性，这样就显著减少了校准仪器所需的时间和精力。
依靠FISCHER的完全基本参数法，可以在没有校验标准片校正的情况下分析固、液态样品的成分及测量样品的镀层厚度。
深圳银飞电子有售XUL 210/220，文章来源于德国菲希尔
