EDX-LE Plus
EDX-LE利用 [筛选分析] 画面、操作简单方便 EDX-LE Plus 操作简便，一个指令即可开始全自动测定。 测定条件的选择过去一直依赖操作者的判断，现在改由装置自动判断，即使初学者也可简便高精度地测定。 1、放置样品 ●将样品放在分析位置，利用样品图像观察装置确认分析位置。 ●选择分析区域。 ●关闭样品室。 2、选择分析条件／输入样品名称 ●一个画面中可以同时显示样品图像、选择分析条件、输入样品名称。 ●点击开始。 3、显示分析结果 ●测......
产品描述
EDX-LE利用 [筛选分析] 画面、操作简单方便
EDX-LE Plus操作简便，一个指令即可开始全自动测定。测定条件的选择过去一直依赖操作者的判断，现在改由装置自动判断，即使初学者也可简便·高精度地测定。
1、放置样品
●将样品放在分析位置，利用样品图像观察装置确认分析位置。
●选择分析区域。
●关闭样品室。
2、选择分析条件／输入样品名称●将样品放在分析位置，利用样品图像观察装置确认分析位置。
●选择分析区域。
●关闭样品室。
●一个画面中可以同时显示样品图像、选择分析条件、输入样品名称。
●点击开始。
3、显示分析结果
●测定结束后，画面上将清楚显示5种元素的［合格判定］、［含量］、［3σ（测定偏差）］。
●点击即可显示［结果列表］或［创建报告书］。
●测定结束后，画面上将清楚显示5种元素的［合格判定］、［含量］、［3σ（测定偏差）］。
●点击即可显示［结果列表］或［创建报告书］。
从主成分判定到条件选择全部实现自动处理
只需1次点击，便可根据预先登录的分析条件，自动执行从测定到结果的一系列操作。校准曲线自动选择功能：
标准配备了RoHS/ELY/无卤素分析所需的各种功能
EDX-LE Plus标准配备了RoHS/ELV/无卤素分析所需的所有必要功能，用户无需购买特殊选购件，就可以获得更佳的RoHS/ELV/无卤素分析系统。标准配置改变照射直径的准直器＆样品图像观察组件
测定异物或者测定包含多个部位的样品时，通过样品图像观察组件在观察样品的同时，可以简单的设定分析位置。测定小样品或样品中特定位置时，可以使用准直器，更改X射线照射区域。（1, 3, 5, 10 ｍｍφ）
形状校正功能
即使含量相同的样品，在形状和厚度不同时，X射线强度将发生变化，得到的定量值也会受到影响，EDX-LE Plus通过使用BG内标法*，可以排除形状和厚度的影响，取得高精度结果。
※BG内标法：通过散射X射线强度使各元素的X射线荧光强度标准化的一种校正方法。
测定结果列表管理
创建列表功能：已保存数据可以用Excel形式列表显示。
大型样品室，可以直接测试大型样品
采用更大的样品室：最大可以放置370mm长×320mm宽×155mm高的大型样品，令紧凑型机身望尘莫及。
创建列表功能：已保存数据可以用Excel形式列表显示。
大型样品室，可以直接测试大型样品
采用更大的样品室：最大可以放置370mm长×320mm宽×155mm高的大型样品，令紧凑型机身望尘莫及。
深圳银飞电子有售EDX-LE Plus X射线荧光分析仪，文章来源于Shimadzu
