首台DPT1000A动态参数测试系统在华南区深圳交付使用。DPT1000A动态参数测试系统研制成功后，就受到了众多科研和企业用户的热烈关注，这款设备是由泰克领先研发而成的，现在首台测试系统已经交付于华南区的深圳一家企业使用，是专门为三代的半导体功率器件的动态的参数的分析而设计，可以处理用户在发现功率器件中出现的较难解决的问题，其中包括了如何设计出在高速工作中的驱动的电器，对系统参数进行了优化；多种芯片的封装的如何适配；如何选择以及连接探头并进行信号测试；如何对在测量过程中出现的干扰和噪音进行控制和优化；进一步的帮助用户在研发设计、进厂的检测和试产阶段能够对器件进行快速地评估，从而对产品的性能进行改善，以便能够更快地应对市场的需求，同时也能帮用户对自研出的驱动电路进验证，加快解决方案落地的速度。

靠前台DPT1000A动态参数测试仪交付使用的是一家专门研发和生产POWER-MOSFET和碳化硅的生产企业，是全球知名的碳化硅MOSFET的生产商之一。为了把自制研究出的SiC功率器件在测试中出现的问题解决，其企业曾投入了大量的金钱和人力设立了专业的功率器件测试研究试验室，但却没有成功。泰克的这款DPT1000A针对高速SiC器件在动态开关的过程中出现的难题，提供了解决方案，并提高测试效率，实现了多达几十个动态参数的自动化测试。作为知名的碳化硅MOSFET的生产商，不仅在推进三代半导体功率器件的研发和普及的工作方面做出了贡献，其企业还把内部设立的测试实验室实向全国的功率器件的用户开放，为其他的用户提供良好的测试环境并帮助其他用户一起成长。

DPT1000A动态参数测试系统由功率器件双脉冲测试驱动板、高压保护罩、芯片温控系统、泰克高分辨率示波器、光学隔离探头、双脉冲信号源、高压电源和自动测试软件组成。以交钥匙的形式交付给用户使用，与上位机匹配的软件测量设备和测试项目，以获取测试的结果并生成数据报告。此测试系统具有高精度的测试灵活性，可以定制驱动电路板，改变关键的器件参数，如栅极电阻、负载电感等。在能够保证安全的前提下，可以对电力设备的动态参数进行全面、准确的测试或评估。同时，采用泰克新的具有高分辨率的示波器和特制用于高压差分的信号测试用的光学隔离探头，为第三代的半导体器件的动态特性，带来更高的带宽和更高的测试精度。新款的泰克示波器能够支持多达8个通道的同时测量。对于半桥式的双脉冲测试电路的测试，可以同时对上下管信号采取同步测试。

DPT1000A测试系统中含有泰克特有的光隔离探头TIVP，此探头提供了极高的共模抑制比功能，在对上管进行测试时，能提供更为准确的波形数据。因为上管在工作状态中的浮地电压非常高，和上管相关联的电信号测量在传统测试中常常很困难。特别是，类似于幅度比较低的栅压的信号，或者是由电流的传感器读取的上管的工作电流，常常会叠加在上百伏或者几千伏的高压信号上，利用高压的差分探头是没有办法对这类的信号进行准确的测量的。TIVP光隔离探头的出现，从根本上解决了这一个问题，在测试高达1GHz的带宽的同时，保证了80～120分贝的噪音共模抑制比，首次真实的把与上管相关联的电信号波形还原。利用高精度电流传感器可以用于系统中高速电流的测试，可以得到比较高的电流测试的带宽和更为精确的电流波形。同时，DPT1000A测试系统还提供了测试动态导通电阻的功能，能够在高速开关的状态下对被测器件进行评估，并且帮助用户能够更准确地了解有关器件的动态特性。

DPT1000A在设计中也考虑到了测试过程中仪器的操作安全，这是十分要紧的一个设计因素。设计把驱动板与示波器探头安置在了一个独立的安全防护罩内，从根本上进行隔离，能够保证在高压大电流的工作状态下，偶尔出现的故障不会对示波器、信号源和上位机电脑等测试仪器造成毁坏。除此这外，设计还采用了驱动板的子板和母板用于垂直安装的方式，功率器件和示波器探头垂直安装于子板的两边。这样的设计，就算是在测试过程中功率器件发生了炸管的现象，探头等设备也不会受到损坏，以确保用户的财产损失降到很低。系统还可以进行根据用户的需求进行定制。系统中的驱动电路定制研发、硬件的集成以及测试软件的研发工作都可以在国内完成，用户可以在系统的基础上提出定制的、适合自己的需求，以满足更多的种类的功率器件的测试需求。同时银飞电子也可以为用户提供本地化的技术支持与服务，以很快的响应速度来确保用户的测试顺利完成。

文章来源于测试仪器