文面向高阻传感器、光电探测器和低维材料器件的暗电流与低电流I-V表征场景，讨论同惠TH1991精密源的10nA量程和1μs采样间隔如何匹配纳安级信号，以及方案配置中必须前置完成的链路阶跃响应和本底噪声核验。

高阻传感器的暗电流测试有一个容易被低估的工程特征：设备端的量程下限只是“入场条件”，真正决定数据可信度的是测试链路。一个1nA的信号，在10nA量程上占满量程的10%，看似有足够的相对分辨率；但如果夹具的绝缘电阻在10^12Ω量级、线缆的屏蔽不完整、或者环境电磁干扰没有被有效隔离，链路引入的泄漏和噪声可能已经与信号处于同一量级。TH1991的10nA量程和1μs节拍解决的是“设备能不能分辨”的问题，链路条件解决的是“信号能不能干净地到达设备”的问题，两者必须同时成立。

链路时间常数：1μs节拍的前置条件

TH1991的最小采样间隔为1μs，但测试回路的RC时间常数可能远大于这个值。一个简单的核验方法是：用源表输出一个快速阶跃，观察测量读数达到稳定所需的时间。如果稳定时间在数十微秒以上，说明链路的时间常数主导了响应，此时缩短设备间隔不会改善曲线质量，需要优先优化夹具（缩短引线、减少接触电阻、增加屏蔽）。这个核验应在方案设计阶段完成，而不是等到数据出现异常后再回头排查。

低电流下的绝缘与屏蔽

在10nA量程下，夹具的绝缘材料、线缆的介质和屏蔽层的接地方式都会进入误差预算。方案中应确认：夹具使用低泄漏绝缘材料（如聚四氟乙烯或蓝宝石），线缆采用低噪声同轴或三同轴结构，屏蔽层单点接地以避免地环路。TH1991支持四线制开尔文连接和Delta低电阻方法，四线制可以消除引线电阻的稳态压降，Delta方法可以补偿热电动势，但两者都不替代绝缘和屏蔽的基本要求。

方案配置决策表

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