Andor Shamrock750 Czerny-Turner光谱仪在现代光谱分析领域，精准的波长检测、高效的光信号捕捉及灵活的系统适配性是推动科研与工业检测突破的关键。Andor Shamrock750 Czerny-Turner光谱仪作为Andor公司推出的高端光谱分析设备，凭借卓越的分辨率、模块化设计及广泛的 detector 兼容性，成为 Raman 光谱、荧光（PL）、吸收/透射、LIBS/OES 等领域的核心工具。无论是材料科学中的成分分析，还是等离子体科学中的光谱监测，Andor Shamrock750 Czerny-Turner光谱仪都能以稳定性能满足高要求实验需求，为用户提供从硬件配置到软件控制的一体化解决方案。

 

Andor Shamrock750 Czerny-Turner光谱仪的光学性能在同级别产品中表现突出，其750mm的焦距与F/9.7的光圈设计，为高分辨率检测奠定基础。该光谱仪分辨率可低至0.02nm（搭配2400 l/mm光栅、300nm中心波长），能精准区分微弱的波长差异，满足单分子光谱、精细物质成分分析等场景需求。同时，Andor Shamrock750 Czerny-Turner光谱仪采用先进的光学设计，通过标准铝+MgF₂镀膜或可选的保护银镀膜优化光反射效率，其中保护银镀膜在近红外（NIR）区域表现更优，配合Andor iDus InGaAs探测器或IR单点探测器（如MCT、PbS、InSb）使用时，能最大化近红外光的收集效率，适用于近红外光谱分析场景。

 

在噪声控制方面，Andor Shamrock750 Czerny-Turner光谱仪通过严格的光学元件校准与杂散光抑制设计，将杂散光水平控制在极低范围。例如，在633nm激光、1200 l/mm光栅条件下，全垂直合并（FVB）模式下1nm处杂散光仅为1.1×10⁻⁴，10nm处低至2.6×10⁻⁵，有效避免杂散光对微弱信号检测的干扰，保障数据准确性。此外，Andor Shamrock750 Czerny-Turner光谱仪的波长精度达0.03nm，波长重复性仅10pm，多次测量中波长偏差极小，为长期实验的一致性与可重复性提供保障，尤其适合需要连续监测的等离子体科学、催化反应研究等领域。

 

Andor Shamrock750 Czerny-Turner光谱仪采用高度模块化设计，从机箱配置到 detector 接口，均支持用户根据实验场景自定义选择。在机箱配置上，该光谱仪提供多种输入/输出端口组合型号（如SR-750-A、SR-750-B1/B2、SR-750-C、SR-750-D1/D2），用户可根据是否需要侧输入端口、直接输入端口及输出端口类型（相机接口或手动狭缝）灵活选型，例如SR-750-D2型号同时具备手动侧输入/直接输入端口与双相机输出端口，适合需要多通道同时检测的实验。此外，Andor Shamrock750 Czerny-Turner光谱仪还支持 purge 端口选项（用于180nm以下波长检测优化）与快门配置，快门最小开合时间15ms，最大重复频率2Hz，能有效减少背景光干扰，保护 detector 免受强光损伤。

 

光栅配置是Andor Shamrock750 Czerny-Turner光谱仪的核心灵活点之一，其配备可互换的三光栅转台，支持150 l/mm至2400 l/mm多种光栅选择，不同光栅对应不同的波段覆盖与分辨率性能。例如，150 l/mm光栅适合宽波段快速扫描，2400 l/mm光栅则用于高分辨率精细检测，用户可根据实验的波长范围与分辨率需求更换光栅，且额外的光栅转台（型号SR-ASM-0085）可按需订购，实现不同实验场景下的快速切换。在光耦合接口方面，Andor Shamrock750 Czerny-Turner光谱仪支持直接耦合、光纤耦合及第三方硬件连接，提供手动/电动狭缝（宽度10μm至2.5mm）、滤光轮、光纤适配器（SMA/FC接口）等配件，适配显微镜、光源、光纤束等多种设备，例如通过C-Mount适配器（SR-ASM-0021）可连接相机镜头，拓展信号采集方式。

 

Andor Shamrock750 Czerny-Turner光谱仪搭配专业软件与广泛的 detector 兼容性，构建起从信号采集到数据处理的全流程解决方案。在软件方面，用户可选择Solis Spectroscopy软件或Andor SDK开发工具包：Solis Spectroscopy支持Windows 8.1/10/11系统，具备数据采集、处理、显示与导出功能，还可通过AndorBasic宏语言实现自动化控制，例如设置波长范围、曝光时间、狭缝宽度等参数，适合快速开展标准化实验；Andor SDK则提供32/64位库（支持Windows与Linux系统），兼容C/C++、C#、LabVIEW、MATLAB、Python等编程语言，方便用户根据自定义需求开发控制程序，适配特殊实验场景。

 

在 detector 兼容性上，Andor Shamrock750 Czerny-Turner光谱仪能与Andor旗下多种探测器无缝对接，覆盖紫外至短波红外（SWIR）波段，满足不同灵敏度与时间分辨率需求。例如，搭配iXon EMCCD探测器可实现单光子级高灵敏度检测，适合弱光场景如荧光光谱分析；搭配iDus InGaAs探测器则能拓展近红外波段检测能力，用于材料近红外光谱研究；搭配iStar CCD/sCMOS探测器可实现纳秒级时间门控，满足动态过程如化学反应中间体监测的需求。此外，Andor Shamrock750 Czerny-Turner光谱仪还支持多通道 detector 配置，通过双输出端口可同时连接两种探测器，实现不同波段或不同检测模式的同步数据采集，提升实验效率，例如在LIBS分析中同时采集可见光与近红外光谱，获取更全面的元素信息。

 

作为一款高性能 Czerny-Turner 光谱仪，Andor Shamrock750光谱仪以顶尖光学性能、灵活模块化配置及全流程软件支持，为各领域光谱分析提供可靠解决方案。无论是科研实验室中的基础研究，还是工业场景下的质量检测，Andor Shamrock750 Czerny-Turner光谱仪都能通过精准的波长检测、高效的信号捕捉与便捷的系统适配，助力用户突破实验瓶颈。未来，随着光谱分析需求的不断升级，Andor Shamrock750 Czerny-Turner光谱仪凭借其可拓展性与稳定性，将持续在材料科学、化学催化、等离子体物理等领域发挥重要作用，推动更多技术创新与科研成果落地。