AMETEK系列的温度校验仪，拥有可靠的温度来源，以及良好的用户界面和集成的解决方案为您节省了时间，简化了校准工作。但是温度校验测量的质量仍然取决于温度源的质量。

温度块必须非常稳定，同时具有良好的温度均匀性。这是非常重要的，因为被测传感器可能有不同的测量区域。由于被测传感器在校准过程中也会作为模块中的热负载，因此即使使用多个探头和大型探头，该模块也能保持良好的均匀性。

AMETEK系列温度校验仪的加热块新的双区设计是解决上述热量问题具有创新性的一步。AMETEK已经在为其一系列的温度校验仪开发了双区域原理的两个不同版本：ACTIVE-CONTROL和CENTRAL-CONTROL。两种版本都不需要测试传感器的绝缘，并且可以校准液体填充和其他机械传感器。

我们都知道AMETEK系列的温度校验仪采用较为先进的井设计，针对精度进行了优化。而什么又是双区域主动控制？ 双区域主动控制原理：AMETEK系列的温度校验仪把加热块分为两个区域，每个区域都有独立的主动控制。块体下部的均匀性接近于实验室液体池的均匀性。下部区域控制校准温度。上部区域通过被测传感器和模块的顶部补偿热量损失，并且确保独立于负载的良好均匀性。

本文来自温度校验仪